LINEV Systems se ha establecido como pionera en el campo de los productos científicos de sobremesa. Gracias a su dedicación a la innovación, la precisión y la excelencia, LINEV Systems está transformando la industria de los instrumentos científicos al proporcionar a los profesionales, como investigadores y científicos, soluciones de vanguardia para sus necesidades de laboratorio. LINEV Systems destaca por su compromiso con la creación de equipos analíticos de sobremesa de vanguardia en un entorno en el que la ciencia es cada vez más exigente y rápida.
Solución multifunción con una velocidad, fiabilidad y reproducibilidad excepcionales para la investigación y el análisis de materiales
Preparación de la muestra
LOT #S1001 | Se utiliza para moler y mezclar diversas sustancias sólidas a granel en polvo
LOT #S1002 | El tamiz de muestreo se utiliza para el tamizado de polvos con el fin de separar los polvos consistentes de los grumos y sólidos durante la preparación de la muestra.
LOT #S1004 | Las placas se utilizan para nivelar la muestra en polvo con la superficie de la cubeta durante la preparación de las cubetas de carga inversa para la medición.
LOT #S1003 | Las placas se utilizan en la preparación de cubetas de medición para nivelar la muestra en polvo con la superficie de la cubeta.
Soportes
LOT #H1003 | An electromechanical assembly designed to install samples in circular cuvettes and rotate them at a specified speed during measurements
LOT #H1002 | Permite cargar hasta ocho muestras diferentes para realizar mediciones con control de la velocidad de rotación de cada muestra.
LOT #H1001 | Para fijar muestras a granel y nivelar el plano de la muestra analizada con el plano del difractómetro.
Cuchillo-colimador
LOT #K1000 | Colimador de cuchillas automatizado
LOT #K1001 | Accesorio indispensable para mediciones de alta precisión en ángulos de difracción estrechos
Cubetas
LOT #C1008 | Para el llenado directo (con nivelación previa) de una muestra en polvo
LOT #C1005 | Relleno y prensado de polvos en la fosa
LOT #C1006 | Relleno y prensado de polvos en la fosa
LOT #C1004 | Llenado directo de muestras en polvo y mediciones mediante el rotador de muestras o el cambiador automático de muestras
LOT #C1003 | Llenado directo de una muestra en polvo
LOT #C1002 | Medición de alta precisión de pequeñas cantidades de muestra
LOT #C1001 | Relleno directo y posterior de muestras en polvo con posibilidad de ajustar la profundidad de carga
LOT #C1007 | Para instalar muestras de referencia o cubetas sin fondo
Elementos de alineación
LOT #A1003 | Formación de un pequeño haz de radiación de baja divergencia
LOT #A1003 | Alineación del difractómetro de rayos X
LOT #A1002 | Limitación de la intensidad del haz durante la alineación
LOT #A1001 | Comprobación de la alineación y calibración del difractómetro con el software
Elementos ópticos
LOT #O1005 | Limita el tamaño de la viga en dirección axial
LOT #O1004 | Limita la divergencia ecuatorial del haz incidente para que su proyección sobre la muestra de ensayo (huella) tenga las dimensiones especificadas y no supere las dimensiones de la muestra.
LOT #O1003 | Se instalan en el zócalo de la máscara del haz incidente (en lugar de BM1) y tienen marcas numéricas que coinciden con las marcas de la rendija de divergencia DS.
LOT #O1002 | Limitar la divergencia axial del haz
LOT #O1001 | Limitar la divergencia axial del haz
Tubos de rayos X
LOT #X1002 | Formando radiación de diferente longitud de onda de 0,71 a 2,29 Å.
LOT #X1001 | Monocromatización de la radiación para la supresión selectiva del tubo de rayos X Kβ
La difracción de rayos X (XRD) es una técnica de laboratorio valiosa utilizada en la investigación de materiales para investigar la composición química y la estructura cristalina de diversos materiales. Proporciona información detallada sobre propiedades como la orientación cristalina, el tamaño de los cristalitos, la deformación reticular, la orientación preferencial y el grosor de las capas sin causar daño a la muestra. Los científicos confían en la XRD por su versatilidad para analizar una amplia gama de materiales, incluyendo polvos, sólidos, películas delgadas y nanomateriales.
El principio de funcionamiento básico de un difractómetro de rayos X implica los siguientes pasos:
El difractómetro contiene un tubo de rayos X que emite un haz de rayos X monocromáticos con una longitud de onda específica, como la radiación Kα de cobre (λ = 1.54 Å). Los rayos X se dirigen hacia la muestra que se está analizando.
La muestra, típicamente en forma de polvo o monocristal, se monta en un porta-muestra. El porta-muestra puede rotarse a diferentes ángulos para exponer diferentes planos cristalinos al haz de rayos X incidente.
Cuando los rayos X interactúan con la red cristalina de la muestra, son difractados por los planos atómicos dentro de la estructura cristalina. Los rayos X difractados forman un patrón de difracción, con picos correspondientes a los ángulos en los que ocurre la interferencia constructiva entre los rayos X dispersados.
Un detector posicionado opuesto a la muestra recolecta los rayos X difractados y genera un patrón de difracción. El detector registra la intensidad de los rayos X difractados en función del ángulo de difracción.
El patrón de difracción se analiza utilizando software especializado para determinar la estructura cristalina, composición de fases, parámetros reticulares y otras propiedades del material. Al comparar el patrón de difracción con patrones de referencia en bases de datos, los investigadores pueden identificar las fases cristalinas presentes en la muestra.
Los resultados obtenidos del análisis de XRD se interpretan para obtener información sobre la estructura, composición y propiedades del material. Los datos de difracción pueden usarse para estudiar las transformaciones de fase, defectos, textura y otras características del material.
El difractómetro de rayos X permite a los científicos e investigadores investigar la disposición atómica dentro de los materiales cristalinos y obtener información valiosa sobre sus propiedades estructurales a través del análisis de XRD.
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Obtener difractómetro XRD
Los difractómetros de rayos X de mesa ofrecen varias ventajas sobre los instrumentos XRD más grandes y tradicionales, lo que los convierte en una opción popular para muchos laboratorios y entornos industriales. Algunas de las ventajas clave de los sistemas XRD de mesa incluyen:
- Tamaño compacto: Los instrumentos XRD de mesa son significativamente más pequeños y portátiles que los sistemas XRD de pie tradicionales. Este tamaño compacto los hace ideales para laboratorios con espacio limitado o para análisis in situ en diversas ubicaciones.
- Facilidad de uso: Los sistemas XRD de escritorio están diseñados para ser fáciles de usar, con procedimientos simplificados de carga de muestras e interfaces de software intuitivas. Esta facilidad de uso permite a operadores con diferentes niveles de experiencia configurar y ejecutar análisis rápidamente.
- Análisis rápido: Los instrumentos XRD de mesa generalmente tienen tiempos de análisis más rápidos en comparación con los sistemas XRD más grandes. Esta capacidad de análisis rápido permite a los usuarios obtener resultados rápidamente, lo que hace que los XRD de mesa sean adecuados para aplicaciones de alto rendimiento.
- Mantenimiento bajo: Los sistemas XRD de mesa a menudo requieren menos mantenimiento que los instrumentos más grandes, reduciendo el tiempo de inactividad y los costos operativos. También pueden tener características de autodiagnóstico que ayudan a identificar y solucionar problemas de manera eficiente.
- Rentabilidad: Los instrumentos XRD de mesa generalmente son más asequibles que los sistemas XRD de pie tradicionales, lo que los convierte en una opción rentable para laboratorios con restricciones presupuestarias o aquellos que buscan agregar capacidades XRD sin una inversión significativa.
- Versatilidad: A pesar de su tamaño compacto, los sistemas XRD de mesa aún pueden proporcionar datos de alta calidad y son adecuados para una amplia gama de aplicaciones, incluyendo la identificación de fases, análisis cuantitativo y determinación de la estructura cristalina.
Los difractómetros de rayos X de mesa (XRD) son instrumentos versátiles que pueden usarse en diversos entornos para diferentes aplicaciones. Algunos lugares comunes donde se utilizan los instrumentos XRD de mesa incluyen:
- Laboratorios de investigación: Los XRD de mesa son comunes en laboratorios de investigación académica e industrial donde se realizan análisis de materiales, cristalografía y caracterización estructural.
- Laboratorios de control de calidad: Industrias como la farmacéutica, química y de fabricación de materiales utilizan instrumentos XRD de mesa para el control de calidad y la monitorización de procesos para asegurar la consistencia y calidad de sus productos.
- Instituciones educativas: Los difractómetros de rayos X de mesa se utilizan en universidades y colegios para la enseñanza, permitiendo a los estudiantes aprender sobre cristalografía, identificación de fases y caracterización de materiales.
- Investigación geológica y ambiental: Los instrumentos XRD de mesa se utilizan en geología y ciencias ambientales para analizar minerales, suelos y muestras ambientales con fines de investigación y monitoreo.
- Laboratorios forenses: Los difractómetros de rayos X de mesa pueden usarse en análisis forense para identificar y caracterizar materiales, como drogas, explosivos y sustancias desconocidas.
- Conservación de arte y arqueología: Los instrumentos XRD de mesa se utilizan en la conservación de arte y arqueología para analizar materiales, pigmentos y artefactos con fines de preservación y restauración.
- Industria farmacéutica: Los instrumentos XRD de mesa se utilizan en la industria farmacéutica para el desarrollo de medicamentos, análisis de formulaciones y cribado de polimorfos para asegurar la seguridad y eficacia de los productos farmacéuticos.
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